Analyse structurale et chimique des matériaux / Jean-Pierre Eberhart

Public ISBD Title : Analyse structurale et chimique des matériaux Material Type: printed text Authors: Jean-Pierre Eberhart, Author Edition statement: [Nouv. éd.] Publisher: Paris : Dunod Publication Date: 1997 Other publisher: 54-Maxéville : Impr. Jean-Lamour Series: Sciences sup Pagination: IV-614 p. Layout: ill., couv. ill. en coul. Size: 24 cm ISBN (or other code): 978-2-10-003367-6 Price: 435 F General note: La couv. porte en plus : "2e cycle universitaire, écoles d'ingénieurs" Bibliogr. p. 597-603. Notes bibliogr. Index Languages : French (fre) Descriptors: Matériaux Microscopie électronique Spectroscopie Surfaces ( technologie ) Analyse structurale et chimique des matériaux [printed text] / Jean-Pierre Eberhart, Author  . -  [Nouv. éd.] . - Paris : Dunod : 54-Maxéville : Impr. Jean-Lamour, 1997 . - IV-614 p. : ill., couv. ill. en coul. ; 24 cm. - (Sciences sup) . ISBN : 978-2-10-003367-6 : 435 F La couv. porte en plus : "2e cycle universitaire, écoles d'ingénieurs" Bibliogr. p. 597-603. Notes bibliogr. Index Languages : French (fre) Descriptors: Matériaux Microscopie électronique Spectroscopie Surfaces ( technologie )

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9782100033676	EBE	Livre	RE2SD Library	Physics	Available

Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides / Jean-Pierre Eberhart

Public ISBD Title : Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides : diffraction des rayons X, des électrons, des neutrons, microscopie électronique à transmission, à balayage, spectrométrie des rayons X, des électrons, des ions Material Type: printed text Authors: Jean-Pierre Eberhart, Author Publisher: Paris : Doin Publication Date: 1976 Pagination: XIII-507 p. Layout: ill. Size: 25 cm ISBN (or other code): 978-2-7040-0066-1 Price: 580 F General note: Bibliogr. p. 491-499. Index Languages : French (fre) Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides : diffraction des rayons X, des électrons, des neutrons, microscopie électronique à transmission, à balayage, spectrométrie des rayons X, des électrons, des ions [printed text] / Jean-Pierre Eberhart, Author . - Paris : Doin, 1976 . - XIII-507 p. : ill. ; 25 cm. ISBN : 978-2-7040-0066-1 : 580 F Bibliogr. p. 491-499. Index Languages : French (fre)

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