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Author Claude Esnouf
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Title : Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique Material Type: printed text Authors: Claude Esnouf, Author Publisher: Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes Publication Date: cop. 2011 Series: METIS LyonTech Pagination: 1 vol. (XVI-579 p.) Layout: ill., couv. ill. Size: 24 cm ISBN (or other code): 978-2-88074-884-5 Price: 64,50 EUR General note: Notes bibliogr. Index
Diff. en FranceLanguages : French (fre) Descriptors: Cristallographie
Microstructure (physique)
Rayons XClass number: 620.1 Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique [printed text] / Claude Esnouf, Author . - Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, cop. 2011 . - 1 vol. (XVI-579 p.) : ill., couv. ill. ; 24 cm. - (METIS LyonTech) .
ISBN : 978-2-88074-884-5 : 64,50 EUR
Notes bibliogr. Index
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Languages : French (fre)
Descriptors: Cristallographie
Microstructure (physique)
Rayons XClass number: 620.1 Hold
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